红外测温中的发射率

日期:2020-09-19 10:08
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摘要: 任何红外测量仪器都是通过测量电气设备表面红外辐射功率,来获得设备温度信息的。并且在 红外诊断仪器接收来自目标红外辐射功率相同的情况下,因目标的表面发射率不同,将会得到不同 的检测结果。也就是说,相同辐射功率,发射率越低,就会显示越高的温度。因物体表面发射率主 要决定于材料性质和表面状态 (如表面氧化情况,涂层材料,粗糙程度及污秽状态等)。因此为了 应用红外热像仪器准确地测量电气设备温度,必须要知道受检目标的发射率值,并将该值作为计算 温度的重要参数输入计算机或者调整红外测量仪的 ε 修正...
       任何红外测量仪器都是通过测量电气设备表面红外辐射功率,来获得设备温度信息的。并且在
红外诊断仪器接收来自目标红外辐射功率相同的情况下,因目标的表面发射率不同,将会得到不同
的检测结果。也就是说,相同辐射功率,发射率越低,就会显示越高的温度。因物体表面发射率主
要决定于材料性质和表面状态 (如表面氧化情况,涂层材料,粗糙程度及污秽状态等)。因此为了
应用红外热像仪器准确地测量电气设备温度,必须要知道受检目标的发射率值,并将该值作为计算
温度的重要参数输入计算机或者调整红外测量仪的 ε 修正值,以便对所测量的温度输出值进行发射
率修正。消除发射率对检测结果影响的另外两种对策措施是:当使用红外热像仪进行测量时,要对
发射进行修正,查出被测设备部件表面的发射率值进行发射率修正,从而获得可靠的测温结果,提
高检测的可靠性;对于红外检测的故障频发设备部件,为使检测结果具有良好的可比性,可以运用

敷涂适当漆料的方法来增大和稳定其发射率值,以便获得被测设备表面的真实温度。


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