Optris Xi1M 是一款短波红外热像仪，擅长对具有挑战性的物体进行非接触热成像。它能够实时测量热金属、钢铁、陶瓷和半导体的表面温度。凭借自主热测量能力和电动对焦功能，该热像仪在工业环境中提供了可靠性和便利性，无需额外的硬件。它配备了以太网、USB 接口，以及模拟和数字过程接口，实现了与控制系统和机械设备的无缝集成

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德国奥普瑞斯optris - Xi1M短波红外热像仪

新一代红外热像技术

optris Xi 1M 短波长红外热像仪

主要应用于金属表面温度测量，适用于熔融金属、焊接、激光加工、热处理等工业过程。热像仪的快速传感器电子设备使其反应时间短至1毫秒，这在可视化热过程的同时实现了温度测量。该热像仪通过USB接口和模拟及数字过程接口实现了与控制系统和制造过程的无缝集成。

optris Xi1M 集成了多项新技术，提供精准的测温体验

带自动热点查找和直接模拟或报警输出，并具有多种现场总线通信选项

USB，以太网（静态），RS485，串行通信可选：EthernetIP, ProfiNet, Modbus TCP

从450°C到1800°C，无需子范围，满足各种工业及科研应用需求。

0.85 - 1.1μm光谱范围

电动对焦功能，无须现场手动调节

工业级和坚固的设计确保了在苛刻工业环境中的可靠性

参数	规格
光学分辨率 @帧率	全分辨率：396×300 像素（以太网）20Hz 子帧模式：132×100 像素（USB，自主模式）20Hz 线扫描：396×8 像素（以太网）500Hz 线扫描：396×1 像素（以太网，自主模式）500Hz
探测器类型	CMOS，像素尺寸 15 µm × 15 µm
光谱范围	0.85 – 1.1 μm
测温范围	20 Hz 模式：450°C – 1800°C 500 Hz 模式：550°C – 1800°C
视场角（FOV）	依镜头焦距不同： 12 mm：28° × 21° 25 mm：14° × 10° 50 mm：7° × 5° 电动对焦
热灵敏度（NETD）	2 K
测量精度	<1400°C：±1% <1600°C：±2%
PC接口	高速以太网 / USB 2.0 / RS485
直接模拟输入/输出	1x模拟输出 (0/4-20 mA) 1x输入（模拟或数字）；电气隔离
过程接口（PIF）	3个模拟输出（0/4-20 mA或0-10 V）3个报警输出 3个输入（模拟或数字）/⾃动故障防护（LED和继电器）*多可堆叠3 个PIF；电气隔离
线缆长度	以太⽹: 1 m (标准), 5 m, 10 m, 20 m (*⼤到 100 m) USB: 1 m, 3 m, 5 m
工作温度	5 – 50°C
防护等级	IP67（NEMA 4）
图像处理	通过 PIXConnec软件，支持测量高温金属表面和熔融金属，可测量感兴趣区域，具有线扫描、事件捕获、合并、报警、比较功能、温度-时间图、温度分布、记录与播放、触发等功能。
尺寸	Ø 36 mm x 112 – 126.5 mm, 取决于镜头(M30x1螺纹)
重量	270 g, (取决于镜头)
供电电源	8 - 30 V DC / PoE / USB