新一代红外热像技术
Optris Xi400 MO
红外显微热像仪
Xi400 MO显微镜光学系统，专门用于印刷电路板分析和电气元件温度测量。因为它采用了专为此目的而设计的光学器件，可提供较小的 IFOV（80 μm）和较小的 MFOV（240 μm）。该红外热像仪将长波红外热像仪与**对焦的显微镜载物台和专为小型目标优化设计的德国光学元件相结合，分辨率为 382 x 288。高达 80 Hz 的高帧频和无缝计算机连接使其适用于监控快速热制造过程。
Optris PIX Connect 软件兼容，用户可免费下载该软件并获得更新。该软件包包括热点和冷点位置检测、直方图、温度曲线、图像减法和其他热图像处理工具等功能。对于研究人员和制程工程师来说，基于 PC 的 PIX Connect 平台具有强大的热图像处理功能，用户可以从场景中的任何像素提取并记录完全校准的温度测量值。