新一代红外热像技术
Xi 1M 短波红外热像仪
Optris Xi 1M 是一款短波红外热像仪,在非接触热成像领域提供了经济实惠和高精度的性能,专门用于测量具有金属物体表面温度。设计在短波红外范围内工作(波长:0.85 – 1.1 μm),这款短波红外热像仪专为捕捉热钢、铁、黄铜、铜、锡、碳、陶瓷和半导体的**表面温度分析而设计。为了满足各行业的严格要求,Optris Xi 1M 提供了宽广的高温测量范围、**的准确性和可定制的视场配置。
Xi 1M 红外热像仪兼容广泛的适用于恶劣环境的配件。这些配件包括水冷外壳,将工作温度范围扩展至 250 度。空气净化装置保持镜头洁净,即使在多尘环境中也能保证不间断的温度测量。兼容配件的组合还包括机械安装选项、电气接口和连接电缆,所有这些都以诱人的价格提供。
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